新品發(fā)布 | 安東帕 Litesizer DLS 700 動(dòng)態(tài)光散射粒度分析儀
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新
品
發(fā)
布
Litesizer DLS 系列是安東帕公司的動(dòng)態(tài)光散射粒度/Zeta 電位分析儀產(chǎn)品,用于表征從納米到微米粒子的粒度、粒度分布、Zeta 電位、分子量、粒子濃度、透光率等特性,具有適用濃度范圍寬、一鍵操作完成測(cè)試、功能全面等優(yōu)點(diǎn)。在 Litesizer DLS 100 和Litesizer DLS 500 取得了優(yōu)秀銷售和應(yīng)用成績的基礎(chǔ)上,安東帕推出了功能更為強(qiáng)大的Litesizer DLS 700。
Litesizer DLS 700
安東帕 Litesizer DLS 700
動(dòng)態(tài)光散射粒度分析儀
攜全新復(fù)雜基質(zhì)測(cè)試方案登場(chǎng):
MAPS系統(tǒng):復(fù)雜樣品的簡單方案
PCON系統(tǒng):樣品中不同顆粒濃度及總濃度的直觀表達(dá)
MAPS多角度聯(lián)合測(cè)試
簡單的單峰樣品測(cè)試已無法滿足日益多樣的測(cè)試需求,Litesizer DLS 700 正式推出多峰樣品的最佳測(cè)試方案:
MAPS 系統(tǒng)擁有更高的分辨率,解決復(fù)雜樣品的粒徑問題;更準(zhǔn)確的粒徑分布結(jié)果;更優(yōu)秀的分離度,粒徑比例大于1:2 即能準(zhǔn)確分辨。
不同角度分管樣品中不同大小顆粒的結(jié)果,將其連立計(jì)算,即可獲得,不同大小顆粒的準(zhǔn)確結(jié)果。
PCON顆粒濃度測(cè)試
借助 PCON 系統(tǒng)強(qiáng)大的功能,現(xiàn)在您可以更了解樣品中顆粒的濃度。Litesizer 700 不單單提供樣品中顆粒的總濃度,通過 MAPS 對(duì)樣品進(jìn)行解析,還可以確定不同大小顆粒各自的濃度。
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